仲山貴金属鍍金株式会社

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2022.12.16技術紹介

測定スポットサイズ10μmの蛍光X線測定装置を導入しました

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微細部品や円筒形状に対し正確に膜厚測定や成分分析ができる様、スポットビーム径が10μmの蛍光Ｘ線分析装置（FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ）を導入しました。薄膜のAu/Pdなどの膜厚や合金成分の分析精度が大幅に向上しました。

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仲山貴金属鍍金株式会社(Nakayama Kikinzoku Mekki Co.,Ltd.)
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